LVEM-5_A3
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LVEM5 : Microscope électronique TEM, STEM, SEM LVEM5 : Microscope électronique TEM, STEM, SEM Spécifications techniques Composants Téléchargez toutes les notes d’applications à partir de notre site web www.cordouan-tech.com The LVEM5 tool will allow you to introduce students to all areas of nanoscale. Real hands-on experience with three different types of Nano-imaging techniques commonly used in industry will certainly give your students a competitive edge upon entry into the workforce. En savoir plus... With the LVEM5 you will be able to resolve the sizes of your nanoparticles with improved contrast to understand the quality of your synthesis on a number of levels. You will be able to discern particle size, quantity and distribution. This can all be easily accomplished in minutes on the LVEM5, right in your own lab. You get all this for a fraction of the price of a conventional electron microscope. En savoir plus... Polymer Science The LVEM has proven to be particularly useful for the high contrast imaging of a wide variety of polymers, organic molecular thin films, and biological materials. We have obtained images on a variety of systems including polyethylene single crystals, pentacene and TIPS-pentacene thin films, block copolymers, and poly(3,4-ethylene dioxythiophene). En savoir plus... This document is not contractually binding under any circumstances and is subject to change without prior notice - Printed in France - ©Cordouan Technologies 10/2012 Microscope TEM, STEM, SEM basse tension Distribution FRANCE CORDOUAN Technologies 11 Avenue de Canteranne 33 600 Pessac France Tel.: +33 (0)556 158 045 Fax : +33 (0)547 747 491 email: sales@cordouan-tech.com site web: www.cordouan-tech.com Pour tous les autres pays et pour plus d’informations, contacter Delong America Inc. email: info@lv-em.com site web: www.lv-em.com Modes d’imagerie de champ et optique électronique avancée à électrons Système Canon à émission Condenseur (lentille magnétique permanente) TEM Le canonde résolution distance focale* 4.30 mm pouvoir à électrons utilise une source Schottky à émission de champ qui offre une luminosité et une cohérence importantes 2.5 nm avec une durée de vie de plusieurs milliers d’heures. La haute luminosité couplée à la petite source du canon à électrons surface minimale illuminée 100 nm grossissement total* à émission de champ optique électronique avancée 1,500 - 202,000 Canon permet de travailler en mode « transmission » et « balayage ». Le système électronique est composé de lentilles magnétiques *dépend de la taille du capteur de la caméra ouverture du condenseur ɸ 50, 30 μm permanentes, d’une lentille électrostatique, de stigmateurs et de déflecteurs électrostatiques. Les lentilles magnétiques très Le canon aucun refroidissement. *calculée pour une une luminosité stables ne nécessitent à électrons utilise une source Schottky à émission de champ qui offretension de 5 kV et une cohérence importantes STEM Microscope électronique Microscope électronique en transmission basse tension en transmission basse tension avec une durée de vie de plusieurs milliers d’heures. La haute luminosité couplée à la petite source du canon à électrons permet de ». Le système électronique est composé de lentilles magnétiques pouvoir de résolution travailler en mode « transmission » et « balayage Objectif (lentille magnétique permanente) 2.0 nm permanentes, d’une lentille électrostatique, de stigmateurs et de déflecteurs électrostatiques. Les lentilles magnétiques très distance focale* 1.26 mm grossissement minimum 6,000 (25 x 25 μm) stables ne nécessitent aucun refroidissement. SEM (BSE detector) pouvoir de résolution grossissement minimum ED (electron diffraction) taille de sonde minimale lentille de diffraction Tension d’accélération (nominale) Echantillon Mise en place des échantillons C (coefficient aberration sphérique) Deux étapess de grossissement Cc (coefficient aberration chromatique) 0.89 mm La conceptionteor (résolutiondiffère considérablement de celle des δ de LVEM5 théorique) 1.1 nm 800 (200 x 200 μm) TEM traditionnels. La de grossissement du système à électrons est Deux étapes colonne miniature αmax (angle d’ouverture théorique) 10-2 rad orientée vers le bas avec le canon à électrons sur la face inférieure. La 50, 30 des Le systèmeconception de LVEM5 diffèreprojette une imagede celle μm à ouverture basse-tension considérablement ɸ élargie sur électrons de l’objectif TEM traditionnels. La colonne miniature du système à électrons est *calculée pour une tension de 5 kV un écran YAG électro-sensible. Cette image, qui contientface inférieure. les détails à 100 nm orientée vers le bas avec le canon à électrons sur la l’échelleLe système à électronsalors grossi par l’objectif du microscope. nanométrique, est basse-tension projette une image élargie sur grossissement 3.5 Projecteur (lentille électrostatique) Le scintillateur YAG sert de convertisseur image, le système àles détails à un écran YAG électro-sensible. Cette entre qui contient électrons 36 - 470 et le systèmegrossissement sur l’écran YAGpar l’objectif du microscope. optique. Le grossissement maximum est de l’ordre de l’échelle nanométrique, est alors grossi 5 kV Le en mode TEM. Les convertisseur entre le système à restent X 200 000 scintillateur YAG sert dedimensions totales du LVEM5électrons et le Canon à électrons comparablessystème optique. Le grossissement maximum est de l’ordre de à celles des microscopes optiques classiques. X 200 des résultats est faite à travers la binoculaire ou restent 000 en mode TEM. Les L’observation cathode ZrO/W[100] dimensions totales du LVEM5 sur un en standard grilles ɸ 3.05 comparables à celles des microscopes optiques classiques. écran via la capture d’image par une caméra numérique. mm densité de courant 0.2 ou sur un L’observation des résultats est faite à travers la binoculaire mA.sr-1 écran via la capture d’image par une caméra numérique. approx. 3 min temps de vie >2,000 heures 4 nm Système optique Poids et dimensions Capture d’images Capture d’images objectif Olympus M 40x ON 0.90 Système électronique et optique Une caméra CCD à balayage kg progressif, IEEE objectif Olympus M 4x ON 0.13 poids Une caméra CCD 25 balayage progressif, IEEE à 1394 FireWire1394QImaging® ®QImaging ® Retiga-4000R haute ® FireWire Retiga-4000R haute binoculaire M 10x dimensions (L × l × h) sans 290 x 450 x 430/480 mm sensibilité (résolution :(résolution 2048 pixels) est sensibilité 2048 x : 2048 x 2048 pixels) est camera tube trinoculaire Olympus U-TR30-2 grand champ reliée au LVEM5. Le logiciel Le logiciel ded’images d’images reliée au LVEM5. de capture capture Système de sasest l’acquisition,l’acquisition, la documentation et Pfeiffer Vacuum la documentation et est conçu pour conçu pour TSH 071E Capture d’images TEM l’analyse des l’analyse des données image haute performances. données image haute performances. poids 15 kg camera Retiga 4000R CCD Diverses procédures de traitement d’images, Diverses procédures de traitement d’images, comme comme dimensions (L × l × h) la FFT, 300 x 300 x 340 mm l’addition, l’histogramme, la correction nombre de pixels 2048 x 2048 pixels l’addition, la FFT, l’histogramme, la correction gamma et gamma et le réglage dule réglage du contraste automatique sont Electronique de contrôle contraste automatique sont dynamique 12 bits disponibles. disponibles. Les images numérisées kg poids 19 peuvent être enregistrées taille des pixels 7.4 μm x 7.4 μm Les images numérisées peuventrésolution : 512 x 512, 1024 × dans trois niveaux de être enregistrées dimensions (L × l de 470 270 x 1024 × refroidissement module de refroidissedans trois niveaux × h)résolutionpixels.x x 512, 290 mm 1024 et 2048 x 2048 : 512 ment Peltier disponible 1024 et 2048 x 2048 pixels. d’images peut être réalisée par la La numérisation Logiciel d’acquisition d’image du LVEM5 détection des peut être réalisée par la La numérisation d’images électrons transmis (STEM – Scanning Vide Capture d’images Logiciel d’acquisition d’image du LVEM5 détection desTransmission Electron (STEM – Scanning l’analyse électrons transmis Microscope) ou par moniteur 512 x 512 pixels Sas des électrons rétrodiffusés (BSE - Backscattered Transmission Electron Microscope) ou par l’analyse Electrons). Dans le mode BSE, la 10-5 mbar des combinaison sauvegarde image jusqu’à 2048 x 2048 pixels pompe à membrane des électrons rétrodiffusés (BSE - Backscattered images provenant de deux détecteurs permet de Electrons). Dans le mode BSE, de contraste à la fois du matériau la combinaison des dynamique 8 bits prendre Chambre échantillon des images images provenant sa topographie. de deux détecteurs permet de et de pompe ionique de type IGP (10 L.sec-1 10-8 mbar prendre des images de contraste à la fois)du matériau CORDOUAN Technologies Tel.: +33 (0)556 158 045 et de à topographie. Canonsa